摘要： Ｘ射线衍射分析法适宜于分析有机显微组分的芳环层的层状结构。有机质的芳环层结构与其类型和演化程度有关。表征有机质芳环层的层状结构的主要参数：高度Ｌｃ、宽度Ｌａ、网面间距ｄｈｋ１和芳环层层数可作为油气勘探中判断源岩性质、类型、演化程度与生烃潜力的依据。文章还对参数的变化与意义进行了初步讨论。